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功能材料測試儀器

激光測振儀傳感器多功能綜合測試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測綜合測試系統(tǒng) 長期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺- 高電場介電、損耗、漏電流測試系統(tǒng) 阻抗分析儀鐵電綜合材料測試系統(tǒng) 鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測試儀高溫介電溫譜測試儀熱釋電測試儀 TSDC熱刺激電流測試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺簡易探針臺高溫四探針測試儀多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 高溫管式爐測試儀漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀電化學(xué)遷移測試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置導(dǎo)通電評估系統(tǒng) 差熱分析儀醫(yī)用接地電阻

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MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗(yàn)儀

更新時間：2024-12-08

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華測MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗(yàn)儀，為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設(shè)計(jì)的。主要應(yīng)用于應(yīng)用領(lǐng)域：復(fù)合絕緣擦亮、高分子絕緣材料、無機(jī)絕緣材料、有機(jī)絕緣材料、其它絕緣材料等。
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HCWP-1000型MLCC高溫介電溫譜/頻譜測試儀

更新時間：2024-12-12

型號：HCWP-1000型

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MLCC高溫介電溫譜/頻譜測試儀，運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測量。重復(fù)性與穩(wěn)定性好，采用雙屏蔽高頻測試線纜，提高測試參數(shù)的準(zhǔn)確度，同時抗擾能力強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
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Huace450P北京華測高低溫介電溫譜儀

更新時間：2024-12-12

型號：Huace450P

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北京華測高低溫介電溫譜儀，設(shè)備測試頻率可達(dá)120MHz，采用直接聯(lián)接阻抗分析儀以減少測試導(dǎo)線的影響，同時電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。
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HCWP-1000MLCC多通道介電溫譜/頻譜測試儀/測薄膜陶瓷

更新時間：2024-12-08

型號：HCWP-1000

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MLCC多通道介電溫譜/頻譜測試儀/測薄膜陶瓷，專用儀器是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設(shè)計(jì)的。從專業(yè)角度來說，其實(shí)就是高溫介電溫譜測量系統(tǒng)。主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體.
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HCJD高低溫寬頻介電溫譜測試儀系統(tǒng)

更新時間：2024-12-08

型號：HCJD

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華測高低溫介電溫譜測試儀系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測量。重復(fù)性與穩(wěn)定性好，采用雙屏蔽高頻測試線纜，提高測試參數(shù)的準(zhǔn)確度，同時抗擾能力強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
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MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導(dǎo)體塊狀

更新時間：2024-12-08

型號：

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MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導(dǎo)體塊狀，為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設(shè)計(jì)的。它由硬件設(shè)備和測量軟件組成，包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測量系統(tǒng)軟件四個組成部分。
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介電溫譜試驗(yàn)儀可測薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具

更新時間：2024-12-08

型號：

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介電溫譜試驗(yàn)儀可測薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具，主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體，可測試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co圖，機(jī)電耦合系數(shù)等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率，時間變化的曲線，測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購。
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高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線

更新時間：2024-12-08

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高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線，公司開發(fā)的高低溫阻抗、介電測量系統(tǒng)軟件將高溫測試平臺，高溫測試夾具與WK6500系列、Agilent（Keysight）4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR測量設(shè)備無縫連接，實(shí)現(xiàn)了自動完成高溫環(huán)境下的阻抗、介電參數(shù)的測量與分析。
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